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平面平晶是以光波干涉原理為基礎，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的平面度。
平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度。亦可用于檢定高精度的平面零件，例如，平面光學零件、高級平臺、平板、導軌、密封件等。平面平晶特別適用于計量單位、實驗室作為標準平面和樣板。
平面平晶的技術參數(shù)（備注：特殊規(guī)格可根據(jù)客戶要求定做）
| 平面直徑d(mm) | 基本參數(shù) | |
| 1級 | ||
| d范圍內 | 2/3d范圍內 | |
|
30 45 60 | 0.03 | ---- |
|
80 100 150 | 0.05 | 0.03 |
|
200 250 300 |
0.08 0.1 0.15 |
0.05 0.05 0.09 |
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