XGT型光譜中性衰減低透過率模擬器 化學建標
在儀器測定波長名義值(589nm、880nm、882nm)上下10?nm范圍內(nèi),對于衰減比為10%、1%,其衰減相對變化不超過±20%。透過率光譜中性衰減模擬器的內(nèi)應力對旋光度影響不超過儀器的最小分度示值。
在儀器測定波長名義值(589nm、880nm、882nm)上下10 nm范圍內(nèi),對于衰減比為10%、1%,其衰減相對變化不超過±20%。透過率光譜中性衰減模擬器的內(nèi)應力對旋光度影響不超過儀器的最小分度示值。
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